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                      2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf끂8342 305.87 KB
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全国统一电话:4006-507-608
SOC750MW 中波红外高速成像光谱仪

SOC750-MW系列是一款快速、实时的MWIR高光谱成像系统。可以 用于机器视觉、精准农业 、生物医药 、国防安全 、遥感科学等研究工作。
基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面阵列探测器、高速扫描系统、高质量的成像光谱仪、以及功能强劲的标定和分析软件HSAnalysis,SOC750-MW可以在2-5μm范围内以27Cubes/s的速度进行高光谱图像测量,光谱分辨率为48~73nm。所测数据可以由第三方软件读取及分析。
SOC750成像光谱仪包括实时高光谱成像处理器,采用的SOC公司专有的高性能HSAnalysis3软件,软件具有图形用户友好界面。

 


 
技术指标
| 型号 | SOC750-HB | SOC750-HR | 
| 主要特点 | 高亮度 | 高分辨率 | 
| 检测器 | 锑化铟(InSb) | 锑化铟(InSb) | 
| 空间像素 | 256*240 | 512*512 | 
| 光谱范围 | 2-5µm | 2-5µm | 
| 光谱通道 | 42 | 64 | 
| 光谱带宽 | 0.073µm | 0.048µm | 
| 测量速度 | 11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42 | 2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64 | 
| FPA阱容 | 20Me‑ | 5Me‑ | 
| 探测器像距 | 30µm | 20µm | 
| IFOV@50mm | 0.6mr | 0.4mr | 
| 测量温度 | 1250°C | 1100°C | 
产地:美国
产品列表
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