SOC760 全光谱/短波红外高光谱成像系统

SOC760高光谱成像系统可获取高分辨率的高光谱图像数据，适合实验室或地面使用。其波长范围覆盖可见-近红外-短波红外（0.4~2.5μm），具有超高分辨率的卓越性能，对用户获取高精度和高质量的数据提供了有效保障。

SOC760

SOC760每个数据立方体包括650个波段图像，每个光谱图像沿光谱仪狭缝方向为640像素，沿扫描方向为2048像素，光学系统采用扫描镜将光线定向传送到二色分束器。短波红外通道使用制冷型InSb焦平面阵列检测器。扫描成像时，扫描镜步进扫描和焦平面检测器成像同步，一次性获取0.4~2.5μm范围内的全波段高光谱图像。配备高性能处理器、高端显卡及2TB存储的笔记本工作站，定制的GUI界面处理软件可进行数据采集、校准、数据提取等。后期数据处理推荐采用ENVI分析软件，如进行PCA主成分分析等。

应用领域

※ 矿产资源 ※ 农业林业 ※ 生物医学 ※ 食品药品

※ 考古 ※ 文化遗产保护 ※ 环境科学研究 ※ 法医鉴定

技术指标

型号	SOC760		SOC760-S
光谱区间	VNIR	SWIR	SWIR
光谱范围（nm）	400~1000	1000~2500	1000~2500
光谱分辨率（nm）	2.5	5	5
光谱波段	650		400
空间分辨率	650*2048		650*2048
像素尺寸	20μm		20μm
镜头	单镜头		单镜头
视场角	12.5°		12.5°
瞬时视场角	340 μr		340 μr
最大频率	120Hz		120Hz
数据立方体扫描速度	8s~5min（室内2~3min）		8s~5min（室内2~3min）
扫描方式	步进式扫描镜		步进式扫描镜
最小扫描幅度	<0.01mrad		<0.01mrad
制冷方式	低温制冷（非液氮）		低温制冷（非液氮）
动态范围	14-bit		14-bit
接口	USB3.0		USB3.0
校准格式	绝对光谱辐射，绝对波长		绝对光谱辐射，绝对波长
输出格式	SOC，BIL，BSQ，BIP，ENVI		SOC，BIL，BSQ，BIP，ENVI

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